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| dc.contributor.author |
Benkherourou Ouahab |
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| dc.contributor.author |
Deville J.P. |
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| dc.date.accessioned |
2022-05-30T09:37:36Z |
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| dc.date.available |
2022-05-30T09:37:36Z |
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| dc.date.issued |
2017-01-01 |
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| dc.identifier.uri |
http://depot.umc.edu.dz/handle/123456789/11902 |
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| dc.language.iso |
fre |
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| dc.subject |
Physique |
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| dc.title |
Caracterisation des interfaces Si/O2 , Si/Si3N4 et Si/SiOxNy par spectroscopie des photoelectrons (XPS) |
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| dc.coverage |
02 Disponibles au magazin de la bibliothèque centrale |
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