Simulation de la technique de pompage de charge à trois niveaux pour la modélisation des défauts à l'interface des TMOS submicroniques

Sellami Mohamed; Bouchemat M.

URI: http://depot.umc.edu.dz/handle/123456789/5582

Date: 2017-01-01

Description:

103 f.

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Doctorat (Electronique)

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