Dépôt institutionnel de l'universite Freres Mentouri Constantine 1
Traitement des analyses par sonde ionique SIMS en régime variant. Applications aux CMOS ultimes
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| dc.contributor.author | Gouder Soraya | |
| dc.contributor.author | Berrabah M. | |
| dc.date.accessioned | 2022-05-24T09:56:12Z | |
| dc.date.available | 2022-05-24T09:56:12Z | |
| dc.date.issued | 2017-01-01 | |
| dc.identifier.uri | http://depot.umc.edu.dz/handle/123456789/5902 | |
| dc.description | 64 f. | |
| dc.language.iso | fre | |
| dc.subject | Electronique | |
| dc.title | Traitement des analyses par sonde ionique SIMS en régime variant. Applications aux CMOS ultimes | |
| dc.coverage | 01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magazin de la B.U.C. 01 CD |
