| dc.contributor.author | Chelloul Mohamed-Cherif | |
| dc.contributor.author | Remram Mohamed | |
| dc.date.accessioned | 2022-05-30T09:34:50Z | |
| dc.date.available | 2022-05-30T09:34:50Z | |
| dc.date.issued | 2017-01-01 | |
| dc.identifier.uri | http://depot.umc.edu.dz/handle/123456789/11477 | |
| dc.description | 61 f. | |
| dc.language.iso | fre | |
| dc.subject | Electronique | |
| dc.title | Modèlisation de la diffusion des impuretés dopantes dans un silicium sous atmosphère oxydante | |
| dc.title | cas du bore | |
| dc.coverage | 1 Disponible dans la salle de recherche 2 Disponibles au magasin de la bibliothèque centrale |
| Files | Size | Format | View |
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