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| dc.contributor.author |
Chelloul Mohamed-Cherif |
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| dc.contributor.author |
Remram Mohamed |
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| dc.date.accessioned |
2022-05-30T09:34:50Z |
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| dc.date.available |
2022-05-30T09:34:50Z |
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| dc.date.issued |
2017-01-01 |
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| dc.identifier.uri |
http://depot.umc.edu.dz/handle/123456789/11477 |
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| dc.description |
61 f. |
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| dc.language.iso |
fre |
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| dc.subject |
Electronique |
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| dc.title |
Modèlisation de la diffusion des impuretés dopantes dans un silicium sous atmosphère oxydante |
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| dc.title |
cas du bore |
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| dc.coverage |
1 Disponible dans la salle de recherche
2 Disponibles au magasin de la bibliothèque centrale |
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